Elektronik arıza bulma test cihazları iki başlık altında incelenebilir.
ATE (Automatic Test Equipments-Otomatik Test Akuıpmınts) Sistemleri: Elektronik cihaz, modül veya kartları komple otomatik şekilde test edebilen test sistemleridir.
Elektronik Malzeme Test Cihazları: Elektronik karttaki malzemeleri tek tek test etmeye imkân veren ve arızalı malzemeyi bulmaya yardımcı olan test cihazlarıdır.
Empedans Testi: ( Osiloskop İle Component (Malzeme) Testi ) Her elektronik malzemenin empedans karakteristik eğrisi vardır. Malzemenin empedans karakteristik eğrisi düzgün değilse elektronik malzeme arızalanmıştır. Empedans test cihazı ile malzemelerin karakteristik eğrileri ölçülür ve arızalı olup olmadıkları tespit edilir.
Programlı Malzeme Testi: Bu test cihazı ile programlayıcı kullanarak program bulunduran malzemelerin test edilmesi, program yedeklerinin alınması ve sağlam programın malzemeye yüklenmesi
işlemleri yapılır. Program yedeğinin arıza yapmadan önce alınması tavsiye edilir. Yedek program alınmışsa kartın onarımı kolaylaşır.
Kısa Devre Testi: Elektronik kartta besleme (Vcc) ve toprak (ground-graund-GND) arasında kısa devre olan malzemelerin bulunmasını sağlar.
LCRmetre Testi: Elektronik atölyeler için önemli test cihazlarındandır. Bobin, kondansatör ve dirençlerin değerini hassas ölçerek arızalarını test eder.
Fonksiyonel Test: Elektronik malzemelerin devre içinde veya dışında enerji verilerek test edilmesi yani bizzat çalıştırılmasıdır.
Boundaryscan-Baundarısıkeyn Testi: Izgaralı lehim küreleri (Ball Grid Array-bol grid erey-BGA) kılıf yapısındaki malzemelerin karta bağlantı uçları kılıfın altındadır ve test edilirken prop ile dokunularak test edilemez. Bu ve benzeri komplike entegreleri devre içinde test etmeye yarayan metottur. Bu entegre devreler boundaryscan testine uygun imal edilmiştir. Ayrıca bu kılıf, yapısında ve içerisinde yazılım bulunan programlı malzemeleri de devreden sökmeden okuyup yazabilir.
Termal Test: Elektronik karta kendi besleme enerjisi belirli süreyle verilip termal kamera çekimi yapılır. Aynı işlem sağlam elektronik karta da yapılır. Bilgisayar ortamında iki görüntü karşılaştırılarak farklar tespit edilir. Daha fazla ısınan malzeme arızalıdır.
TP (Test Point): Birer adet sağlam ve arızalı elektronik kart karşılaştırılmak üzere hazırlanır. Elektronik kartlara enerji verilerek TP noktalarındaki elektriksel sinyaller karşılaştırılır. Arızalı karttaki yanlış sinyalin olduğu TP noktasının noktasının bulunduğu, arızanın olduğu yerdir