Osiloskoplar, elektriksel değerleri grafiksel olarak görmemizi sağlayan ölçü aletleridir. En basit bir osilaskopta AC ve DC voltaj, frekans, AM modülasyon ölçme gibi işlemler rahatlıkla görülür ve bunların analizleri yapılabilir. Bu yazıda, component (malzeme) test özelliği olan osiloskoplarda bu özelliğin nasıl kullanıldığı anlatılacak ve örnekler verilecektir, hesaplamalar ve formüllerin işlenmesi gibi konulara girilmeyecektir.
Bu özellik bulunan osilaskopların ön yüzünde COMP. TEST yazan bir alanı ve bu alanda bir anahtarı ve giriş noktası bulunmaktadır.
Şekil 1: Osiloskop üzerinde component test alanı.
Osiloskopun Component Test İçin Hazırlanması
Osilaskoplarda aynı özellikler olsa da üreticiler fonksiyon düğmelerini kendi istedikleri şekilde yerleştiriyorlar. Genel olarak bu işlem şöyle yapılır:
1- Osiloskobun COMP. TEST ve GND girişlerine ölçmede kullamnak için birer prob takılır.
2- Osiloskobun X-Y özelliği aktifleştirilir. Çift taramalı osilaskoplarda girişin biri X, diğeri Y olarak seçilmiştir. Bunun girişlerin hangisinin X, hangisinin Y olduğu giriş noktasında yazar. X-Y düğmesi aktifleştirilince ekranın ortasında parlak bir nokta oluşur.
3- Bu nokta tam ortaya POSITION düğmeleriyle yerleştirilir. Böylece ayarlama da yapılmış olur.
4- Her iki kanal girişi de GND’ye bağlanır.
Şekil 2: Kanal giriş yönlendirme anahtarı.
5- COMP. TEST anahtarına basılır.
6- Ekranda yatay bir çizgi oluşur. Her bir girişin uzunluğu VOLTS/DIV ayar komütatörü ile ayarlanır. Kullanım klavuzlarında genellikle X için 5V/DIV, Y için 2V/DIV konumu tavsiye edilmektedir. Bu ayar, kataloglarda yazıldığı gibi yapılabileceği gibi, COMP. TEST girişi boşta iken X uzunluğunu, GND’ye bağlı iken de Y uzunluğu ayarlanabilir. X ve Y koordinatlı grafik gibi düşünüldüğünde, X yatay ekseni, Y ise dikey ekseni ayarlıyor.
Şekil 2: X için 5V, Y için 2V seçilmiş, boşta ve kısa devre haldeki görüntüler.
Osiloskopta Component Testinin Yapılması:
Burada yapılacak testlerde direnç, kondansatör, diyot ve transistör gibi temel malzemeler kullanılacaktır. Karmaşık yapılardan oluşan entegrelerin sonuçları üreticiden üreticiye farklılıklar göstermektedir. Ölçülecek parçanın bir ucu osilaskopun GND girişine diğeri ise COMP. TEST girişine bağlanacak. Parçalar tek olarak test edilebileceği gibi paralel veya seri bağlı olarak test edilebilir. Aynı zamanda bir parça diğer parçalarla çeşitli bağlantı şekilleriyle test edilebilir.
Dirençler:
6K8 direnç 22K direnç 47K direnç
Kondansatörler:
1µF 50V elektrolitik 220nF kutupsuz 100nF kutupsuz
Diyotlar:
7V5 zener diyot 1N4007 diyot
BC547 transistör:
BC 547 BC bağlantısı BC 547 EB bağlantısı BC 547 EC bağlantısı
Diğer bağlantı şekilleri:
22K direnç ve 100nF kondansatör paralel bağlı
Benzer Yazılar
- AC GERİLİMİN OSİLOSKOPTA ÖLÇÜLMESİ
- Osiloskop ile genlik , periyot ve faz farkının ölçülmesi
- Lissajous Eğrileri
- Osiloskop Ölçme Teknikleri
- Osiloskop ile ölçüm
- Osiloskop ölçüm örnekleri
- OSİLOSKOP NEDİR ?
- HAMEG Osiloskop
- Yarım Dalga Doğrultma Devresi Çıkış Sinyali, Frekans Ve Çıkış Gerilimi Ölçülmesi
- Proteus’da Osiloskop
